顆粒物檢測(cè)儀是利用光的散射原理來(lái)測(cè)量顆粒物濃度的飛躍。當(dāng)光線照射到顆粒物上時(shí)參與水平，會(huì)發(fā)生散射現(xiàn)象可能性更大，即光線在顆粒物表面發(fā)生反射機構、折射和吸收。顆粒物的大小長效機製、形狀和折射率等因素會(huì)影響散射光的強(qiáng)度和方向相結合。通過(guò)測(cè)量散射光的強(qiáng)度高效化，可以計(jì)算出顆粒物的濃度。
 

　　光學(xué)散射法顆粒物檢測(cè)儀主要由光源為產業發展、光學(xué)系統(tǒng)、光電探測(cè)器和信號(hào)處理電路等部分組成有所增加。光源通常采用激光或LED燈各項要求，具有較高的亮度和穩(wěn)定性。光學(xué)系統(tǒng)包括聚焦透鏡越來越重要的位置、光闌新技術、分光鏡等，用于將光線聚焦到顆粒物上順滑地配合，并收集散射光深入。光電探測(cè)器用于將散射光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，常用的有光電二極管前沿技術、光電倍增管等基礎。信號(hào)處理電路對(duì)電信號(hào)進(jìn)行放大、濾波多種方式、模數(shù)轉(zhuǎn)換等處理對外開放，得到顆粒物濃度的數(shù)值。
 

　　顆粒物檢測(cè)儀的工作原理如下：
 

　　1.光源發(fā)出的光線經(jīng)過(guò)光學(xué)系統(tǒng)聚焦到顆粒物上深入交流研討，與顆粒物發(fā)生散射作用資料。
 

　　2.散射光被光學(xué)系統(tǒng)收集，經(jīng)過(guò)分光鏡分離出不同波長(zhǎng)的光關註度，分別進(jìn)入光電探測(cè)器橫向協同。
 

　　3.光電探測(cè)器將散射光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，電信號(hào)的強(qiáng)度與散射光的強(qiáng)度成正比敢於挑戰。
 

　　4.信號(hào)處理電路對(duì)電信號(hào)進(jìn)行處理不斷創新，得到顆粒物濃度的數(shù)值。
 

　　5.通過(guò)顯示器或通信接口輸出顆粒物濃度的數(shù)值探索。
 

　　顆粒物檢測(cè)儀具有以下優(yōu)點(diǎn)：
 

　　1.測(cè)量速度快堅持先行，實(shí)時(shí)性好，適用于連續(xù)監(jiān)測(cè)管理。
 

　　2.靈敏度高優化上下，可檢測(cè)到較小的顆粒物。
 

　　3.結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單模樣，便于攜帶和安裝生產體系。
 

　　4.無(wú)耗材，維護(hù)成本低很重要。
 

　　然而能力和水平，顆粒物檢測(cè)儀也存在一定的局限性：
 

　　1.受顆粒物的形狀覆蓋、折射率等因素影響，測(cè)量結(jié)果可能存在一定的誤差研究。
 

　　2.對(duì)于高濃度顆粒物的測(cè)量高效，可能出現(xiàn)飽和現(xiàn)象，導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確提高。
 

　　3.受環(huán)境光干擾較大機構，需要在暗環(huán)境下使用。